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高斯计测量薄片磁体的剩磁

日期:2019-10-22 16:58
高斯计测量薄片磁体的剩磁的原理是测量薄片中心点的表磁,如果薄片退磁后,就很难测试出来,因为薄片充磁后的表磁本来就不高,在这个时候,我们工程师建议采用磁通计测量磁通值,检测薄片的剩磁比较好。