高斯计测量薄片磁体的剩磁

高斯计测量薄片磁体的剩磁的原理是测量薄片中心点的表磁，如果薄片退磁后，就很难测试出来，因为薄片充磁后的表磁本来就不高，在这个时候，我们工程师建议采用磁通计测量磁通值，检测薄片的剩磁比较好。